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一种分孔径共焦面全偏振态同时探测的偏振成像系统

任立勇,屈恩世,梁健,巨海娟,一种分孔径共焦面全偏振态同时探测的偏振成像系统,授权实用新型专利,申请日期:2015.11.13,专利号:ZL 2015 2 0906066.7,授权公告日:2016.4.27.